Oberfl?chenphysik - AG Falta

Profil

Die Arbeitsgruppe Oberfl?chenphysik besch?ftigt sich mit strukturellen und chemischen Aspekten niederdimensionaler funktionaler Systeme mit hohem Anwendungspotential. Wir untersuchen gegenw?rtig neuartige Halbleiter (auch organische Halbleiter), Metalloxide auf Metalloberfl?chen, und Materialien mit strukturellen Phasenüberg?ngen. Aktuelle Forschungsbeispiele finden sich in den Projektbeschreibungen und in der Literaturliste.

Für die Untersuchungen setzen wir in unseren Labors die niederenergetische Elektronenmikroskopie (LEEM), Rastertunnelmikroskopie (STM), R?ntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) und die Elektronenbeugung (LEED) ein. Hinzu kommt eine Reihe von ein- bis zweiw?chigen Messzeiten an Synchrotronstrahlungsquellen (in Triest, Barcelona, Hamburg, Lund u.a.), in denen wir mittels spezialisierter Messmethoden, wie Photoelektronenmikroskopie (PEEM), winkelaufgel?ster Photoelektronenspektroskopie (ARPES) und R?ntgenbeugung erg?nzende Informationen gewinnen um physikalische Fragestellungen rund um die Beziehung zwischen Struktur und Funktion von Materialien zu beantworten.