Instrument Database
MAPEX Ger?tedatenbank
Finden Sie Ihre Analyse
Hier finden Sie analytische Ger?te, die in den MAPEX Gruppen zur Verfügung stehen. Verschiedene Filter sowie die Suchfunktion helfen Ihnen dabei, sich über die Analysemethoden zu informieren und mit den zust?ndigen Ger?tebetreibenden in Kontakt zu treten.
- Ger?t
HerstellerJPK Nanowizard III
JPK Berlin GermanyUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force MicroscopyKernmerkmaleSub-nm resolution; Compatible with liquid and biological samples; Force spectroscopy mode availableKontakt - Ger?t
HerstellerSurPass streaming potential measurement
Anton PaarUntersuchungsgebieteTechnikZeta potentialKernmerkmaleAnalysis of bulk material, flat surfaces, porous samples, particles or beadsKontakt - Ger?t
HerstellerTA Instruments DHR-3
TA InstrumentsUntersuchungsgebieteTechnikRheologyKernmerkmaleEquipped with a 2-d couette interfacial shear geometryKontakt - Ger?t
HerstellerBELSORP-mini
MicrotracBEL Corp.UntersuchungsgebieteTechnikVolumetric Gas AdsorptionKernmerkmaleSpecific surface area; Pore size distribution; N2 and CO2 adsorption; BETKontakt - Ger?t
HerstellerPL?2300 Sensofar
Sensofar-Tech, S.L.UntersuchungsgebieteTechnik3D ProfilometeryKernmerkmaleConfocal conventional and interferometer microscopeKontakt - Ger?t
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikElectron Microprobe AnalysisKernmerkmale5 x-ray spectrometers, one for light elementsKontakt - Ger?t
HerstellerFastScanning AFM
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force MicroscopyKernmerkmaleFast scans (> 125 Hz) Air or fluid environments; Range of 90 ?m x 90 ?m; Reduced noise levelKontakt - Ger?t
HerstellerRc-VSI
Bruker/RenishawUntersuchungsgebieteTechnikRaman spectroscopy coupled with Vertical Scanning InterferometryKernmerkmaleRaman equipped with 785 nm and 532 nm class 3B lasers; Interferometer equipped with 5x; 20x; 50x; 115x objectives; White light scanning and monochromatic phase shift modes availableKontakt - Ger?t
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnik3D Laser LithographyKernmerkmale3D laser lithography; Direct laser writing; Structure fabrication; Surface modificationKontakt - Ger?t
HerstellerOCA-1
DataphysicsUntersuchungsgebieteTechnikDrop Shape ProfilometryKernmerkmaleContact angle and surface tension measurements; Dilatational viscoelastic properties of interfacesKontakt - Ger?t
HerstellerDual Beam Helios G4 PFIB
ThermoFisherUntersuchungsgebieteTechnikElectron/Ion beamKernmerkmaleDual beam SEM (electrom, ion), EDX, EBSD, ToF-SIMSKontakt - Ger?t
HerstellerDimension Icon XR
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force MicroscopyKernmerkmale-Kontakt - Ger?t
Hersteller(AR)XPS/UPS/LEED/TPD
SPECSUntersuchungsgebieteTechnikThermal programmed desorption
Photoemission spectroscopy
Low-energy Electron DiffractionKernmerkmale-Kontakt - Ger?t
HerstellerHelios 600
FEI / ThermoFisherUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron MicroscopyKernmerkmaleCryo-FIB, Slice&ViewKontakt