Instrument Database
Surface Analytics
FastScanning AFM
Allgemeine Informationen
- Untersuchungsgebiete
- TechnikenAtomic Force Microscopy
- HerstellerBruker
- Herstellungsjahr2015
- Gemessene Gr??eSurface heights, Surface forces, Mechanical properties
- HauptanwendungAnalysis of chemical kinetics during dissolution/ corrosion, growth, and adsorption of materials
- In-situ, real-time kompatibelJa
Spezifikationen des Ger?ts
- Technische Aspkete
Scan head for fast measurements (100 Hz), FOV = 30 ?m x 30 ?m
Low noise level < 200 pm RMS
Second scan head for large FOVs up to 80 ?m x 80 ?m
Measurement modes include contact, tapping, phase imaging, force spectroscopy, electrochemical potential
- In-situ-M?glichkeitenMeasurements in fluid cells with fluid temperature up to 60°C
Kontaktperson
- AnwendungswissenschaftlerAndreas Lüttge
Fachbereich 5
GEO
Telefonnummer 0421-218-65233
aluttgeprotect me ?!marumprotect me ?!.de - Cornelius Fischer
Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf
Telefonnummer +493512604660
c.fischerprotect me ?!hzdrprotect me ?!.de - Führender AnwendungswissenschaftlerAndreas Lüttge
Ger?testandort
- GruppeMineralogy
- Geb?udeGEO
- Raum3220
- FachbereichFachbereich 5