Laboratorien und Ger?te
Zur elektronenmikroskopischen Untersuchung von Proben stehen der Arbeitsgruppe die im folgenden vorgestellten Laboratorien und Ger?te zur Verfügung. Bei einem Interesse an einer Benutzung dieser finden sich weitere Informationen unter Servicemessungen.
Ger?te
Thermo Fisher Spectra 30/300 (S)TEM
Sondenkorrigiertes Transmissionselektronenmikroskop
Das im Sommer 2021 neu installierte Spectra 30/300 ist eines der modernsten Transmisionselektronenmikroskope, die erh?ltlich sind. Es erlaubt der AG an vorderster Front der wissenschaftlichen Entwicklung zu arbeiten.
Seine Hauptmerkmale sind:
- STEM-Aufl?sung von 50 pm
- Beschleunigungsspannung von 300 kV
- Monochromator
- Sonden-Aberrationskorrektor
- SuperX EDX-Detektor
- "High-angle annular dark field"-Detektor (Fishione)
- TEM/STEM-Tomographie-Halter
- schnelle CMOS-Kamera mit 16 Megapixeln und hoher Bildrate
- ultraschnelle Kamera mit direkter Elektronendetektion mit bis zu 1,1 kHz Bildrate
- Plasma-Cleaner und Ozon-Cleaner in direkter N?he
FEI Titan 80/300 G1
Abbildungskorrigiertes Transmissionselektronenmikroskop (TEM/STEM)
Seit seiner Installation 2007 ist das hochmoderne Titan 80/300 G1 Transmisionselektronenmikroskop das Arbeitspferd der AG Elektronenmikroskopie für Wissenschaft, Lehre und Service.
Hauptmerkmale sind:
- CTEM-Aufl?sung von 0,08 nm
- STEM-Aufl?sung of 0,12 nm
- Beschleunigungsspannung von 300 kV
- Abbildungs-Aberrationskorrektor (CEOS)
- Gatan Tridiem Imaging-Filter/Spektrometer
- M?llenstedt-Düker-Biprisma für holographische Aufnahmen
- EDX-Detektor
- "High-angle annular dark field"-Detektor (Fishione)
- TEM/STEM-Tomographie-Halter
- zwei CCD-Kameras mit je 4 Megapixeln
- Plasma-Cleaner und Ozon-Cleaner in direkter N?he
FEI Nova 200
Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ga-Ionenstrahl (FIB)
Erm?glicht die Pr?paration von TEM-Proben mittels ?tzen durch fokussierte Ga-Ionen sowie REM-Untersuchungen.
Zeiss Auriga
Rasterelektronenmikroskop (REM)
Ausgerüstet mit Manipulationsnadel, fokussiertem Ionenstrahl, 澳门皇冠_皇冠足球比分-劲爆体育eren Gasinjektionsnadeln sowie diversen Detektoren wie EDX und EBS ist die Auriga für vielf?ltige Untersuchungen geeignet.
Ditabis Micron
Imaging-Plate-Scanner
Der Imaging-Plate-Scanner Ditabis Micron erlaubt das Auslesen von elektronenbelichteten Imaging-Plates, die eine extrem hohe Dynamik bei gleichzeitig hoher Aufl?sung bieten.
Ganuk GEX45/4 und SW ENG V100E
Vakuum-Exsikkatoren
Durch eine Lagerung der TEM-Proben im Vakuum, welches nur zum Entnehmen von Proben kurzzeitig durch eine Stickstoffatmosph?re ersetzt wird, wird die Degeneration der Proben durch Kontamination oder Oxidation minimiert.
Technoorg Linda IV5
Ger?t zur Ionendünnung
Die Technoorg Linda erlaubt das ?tzen von TEM-Proben durch Ar-Ionen mit Energien bis zu 1000 V, die gro?fl?chig Material abtragen k?nnen. So ist eine Dünnung auf elektronentransparente Probenst?rken um 50 nm m?glich.
Well Model 3241
Diamantdrahts?ge
Die Well Model 3241 Diamantdrahts?ge kann genutzt werden, um Proben in Vorbereitung der transmissionselektronenmikroskopischen Untersuchung in bis zu 100 ? dünne Scheiben zu schneiden.
Gatan PIPS Model 691
Ionen?tzanlage
Die Gatan PIPS erm?glicht mit ihren fokussierten Ar-Ionenstrahlen das gezielte Herunterdünnen von konventionellen TEM-Proben.
Laboratorien
Labor | Geb?ude/Raum | Telefon |
---|---|---|
Titan-Mikroskop | NW1 O0050 | 34700 |
Spectra-Mikroskop | NW1 O0090 | 62264 |
Spectra-Steuerraum | NW1 N0100 | 62264 |
Nova-FIB | NW1 M0040 | 62794 |
Auriga-REM | NW1 O0080 | 62584 |
Pr?parationslabor Chemie | NW1 N4170 | 62258 |
Pr?parationslabor Ionen | NW1 N4160 | 62259 |
Elektronik-Werkstatt | NW1 N4150 | 62260 |
Rechencluster | NW1 N4365 | 62257 |
Bibliothek | NW1 M5010 | 44751 |
Diplomandenraum | NW1 N3170 | 62261 |
Seminarraum | NW1 N4270 | 62272 |